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x射線熒光鍍層測厚儀-產品百科
更新時間:2023-05-04   點擊次數:903次
  x射線熒光鍍層測厚儀是一款專業用于鍍層厚度測量的儀器。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。但是由于測量對象、測量方法、測量環境、儀器設備等因素引進了諸多測量誤差,那么,x射線熒光鍍層測厚儀的哪些測量誤差是不可避免的呢?儀器設備引入的測量誤差主要包括以下幾方面:
 
  1、器測量示值誤差
 
  2、儀器測量小分辨率
 
  3、儀器使用的校準片
 
  4、儀器對試樣表面的不連續敏感,太靠近試樣邊緣或內轉角處測量時,磁場將會發生變化,測量結果將不可靠。因此,不要在靠近不連續的部位如邊緣、孔洞和內轉角等處進行測量。
 

X射線熒光鍍層測厚儀

 

  5、金屬機械加工方向對材料的磁特性會產生較大影響,當使用雙極式測頭或被磨損而不平整的單極式測頭測量時,測量結果會受到磁性基體金屬機械加工(如軋制)方向的影響。因此,在試樣上測量時應使測頭的方向與在校準時該測頭所取方向一致。
 
  6、金屬材料由于磨削等加工方式可能帶來剩磁,影響儀器測量,試樣測量前應進行消磁處理,并在互為180°的兩個方向上進行測量。
 
  7、基體金屬曲率的變化將影響測量結果,曲率半徑越小,對測量結果的影響越大。當測量曲率較小的試樣時,應通過化學方法除去試樣的局部覆蓋層,利用試樣的無膜部分作為基體對儀器校準。
 
  8、基體金屬表面粗糙度將影響測量結果,粗糙度程度增加,對測量結果的影響增大。應對試樣基體多個位置進行零點校正,并在試樣不同位置上進行多次測量,測量次數至少應增加到5次或以上,以減小影響。

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